JIS B7991-2002 Automated measuring systems for sulfur dioxide in flue gas using non-extractive methods
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ID： |
B6F6206DC5CF4BFFADA3C23D0026DFD4 |
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文件大小(MB)： |
0.34 |
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页数： |
7 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-6-24 |
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B7991 : 2002,まえがき,この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本,工業規格である,制定に当たって,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日本,工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 7935 : 1992(Stationary source emission,一Determination of the mass concentration of sulfur dioxide一Performance characteristics of automated measuring,methods)を基礎として用いた:,JISB7991には，次に示す附属書がある,附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表,(1 ),著作権法により無断での複製,転載等は禁止されております,B 7991 : 2002,目次,ページ,序文 1,1, 適用範囲 1,2. 引用規格1,3, 原理. 1,4,構成. 2,5 .計測システムの性能.. 2,6 . 表示 2,7 .取扱説明書 3,附属書1 （参考）JISと対応する国際規格との対比表.4,(2 ),著作権法により無断での複製,転載等は禁止されております,日本工業規格 JIS,B 7991 :2002,試料非吸引採取方式による排ガス中の,二酸化硫黃自動計測システム,Automated measuring systems for sulfur dioxide in flue gas,using non-extractive methods,序文 この規格は,1992年に第1版として発行された!SO 7935, Stationary source emission—Determination,of the mass concentration of sulfur dioxide-Performance characteristics of automated measuring methods の 4.3,Non-extractive methodsを元に作成した日本工業規格であるが,対応国際規格には規定されていない規定項,目（2.6及び7.）を追加した,なお，点線の下線及び側線を施してある部分は，対応国際規格にはない事項である,1 .適用範囲 この規格は,排ガス中の濃度を試料非吸引方式によって連続的に測定するための自動計測,方式及びその計測器について規定する,備考 この規格の対応国際規格を,次に示す,なお,対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT （一致している），MOD,（修正している），NEQ （同等でない）とする,ISO 7935 : 1992 Stationary source emission一Determination of the mass concentration of sulfur,dioxide一Performance characteristics of automated measuring methods （MOD）,2 .引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用することによって,この規格の規定の一部を構成する,この引用規格は,その最新版（追補を含む。）を適用する,JIS B 7981排ガス中の二酸化硫黃自動計測システム及び自動計測器,備考 ISO 7935, Stationary source emission—Determination of the mass concentration of sulfur dioxide一,Performance characteristics of automated measuring methods からの引用事項は,この規格の該当事,項と同等である,3 .原理これは，試料ガス採取部をもたない方法で,直接排ガス中に赤外線又は紫外線を透過する方式,のガス分析計でパスモニター方式ともいわれている。光源から出た光が排ガス中を透過するときの光の吸,収を測定する。原理的には,単光束形の赤外線/紫外線ガス分析計と同じである。ただし,…测定値型水分直,含ん笈全力:二量に対しての濃度にな至@殳,…水一先量を別ーに測定し捕歪丈る必ー要がある串…まーた一水分为:Kを,除去せず，そのまま光の減衰を測定するため,干渉誤差が生じる。これを回避するため,多波長の測定を,行うなどの方法で干渉補償を行う必要がある。ダストが多い場合には,ダストによる光の減衰を，他の波,長のー減衰ーズ調べるなービー@方造ズ補ー正演算丈るー必要が一聂る串…,著作権法により無断での複製,転載等は禁止されております,2,B 7991 : 2002,参考 この方式は,サンプリング部分をもたないため,無駄な時間がなく応答時間が短くなる特長が,あるが,設置場所が燃焼排ガスのダクトの壁面に限定されるため,次の点に配慮する必要があ,る,a）溫度 設置場所付近は高温な場合が多いので,受光部は,冷却が十分行えるよう注意する,b）振動 光学裝置であるため,光源部,受光部が振動しないよう,十分配慮して設置する,c）校正 実際に標準ガスを流して,校正することは不可能に近いので,測定値の信頼性が確,保できるか,検討が必要である,d） メンテナンス 機器のメンテナンスが行えるよう,設置場所に注意する,e）空気 光源部，受光部は，ダストによる汚れを防ぐため，清浄な空気によるパージを行う,このための空……
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